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XRF-1800型岛津X射线荧光光谱仪

XRF-1800型岛津X射线荧光光谱仪
  • 产品编号: XRF-1800
  • 产品型号: XRF-1800
  • 所属类别: 光谱 色谱 元素分析
  • 所属品牌: SHIMADZU
  • 所属用途: 元素分析
  • 应用领域: 金属
出品单位: 
岛津X射线荧光光谱仪XRF-1800型从仪器的硬件与软件在许多细节都进

世界250μm微区分布成像分析功能!

XRF-1500/1700系列X射线荧光光谱仪是在世界上首先开发出微区分析/分布分析功能,并率先采用了4KW薄窗X射线管,扩大了X射线荧光分析的应用领域,作为具有革命性的仪器而得到了很高评价,业已销售200余台。
扫描型X射线荧光光谱仪 XRF-1800型从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进,使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高,增加了世界的250μm微区分布成像分析功能,从而达到更高水平的程度。作为高灵敏度和微区分析的开拓者,岛津公司非常自信地向用户奉献出优越的XRF-1800型X射线荧光光谱仪。

 


· 在波长色散型装置中,世界250μm微区分布成像分析功能

  可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。

XRF 1.jpg   XRF 2.jpg
稀土元素矿石的XRF-1800成像分析实例

· 利用高次谱线进行准确的定性/定量分析

高次谱线的判定更加准确,提高了定性定量分析的准确度/可靠性。

XRF 3.gif
利用XRF-1800的高次谱线分析刹车片实例

· 测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法

  利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢(H)元 素的信息。高分子薄膜分析中,利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜 的信息。

XRF 4.gif
使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例

· 微区分析结构
   独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光栏,利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动,可以在30mm直径内的任意位置进行分析。 

· 利用CCD相机可以直接观察样品(选配件)
   在测定室导入样品的位置上,将样品容器按照与测定位置相同的方式放置,通过CCD摄取样品的图像,可使测定位置与图像相吻合。

· 配备高可靠性、长寿命的4kW薄窗X射线管
   配备平均寿命在5年以上的高可靠性X射线管。与传统的3kWX射线管相比,轻元素的分析灵敏度提高2倍以上。

· 集成岛津技能精华的模块功能,匹配分析功能
   对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件,在这基础上可编制的分析条件。可根据不同材质
   判定、品种分类、品种判定、一致性检索这4种匹配功能进行判定、检索。

 

友情链接:万能试验机

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