IR观察对使用了硅片、薄膜等透射红外线（IR）材料的电子器件的内部观察十分有效。最近，特别适用于半导体硅衬底侧的CSP研究开发。此外，除了IR观察，IR物镜被用于近红外线拉曼光谱仪，IR显微镜被用于YAG激光（1064 nm）的激光修正。