徕卡金相显微镜|奥林巴斯金相显微镜|蔡司金相显微镜|尼康显微镜

收藏本站 - 设为首页 - 网站地图
  • 首页Home
  • 关于百贺About Us
  • 产品中心Products
  • 新闻中心News
  • 技术资料Technical Data
  • 客户案例Cases
  • 联系我们Contact Us
新闻中心 / News
  • 公司新闻
  • 行业动态
  • 百贺关注
产品搜索
   BAHENS百贺仪器拥有一支朝气蓬勃,勇于创新,团结协作的精英团队。公司倡导创造价值,培养使命感、责任感、荣誉感和成就…   阅读更多>>
您当前的位置:首页 > 百贺关注

离子束切割纳米碳化钨粉末

发表时间:2015-03-23    点击次数:2591

离子束切割纳米碳化钨粉末

纳米碳化钨粉是应用于生产硬质合金的主要原材料之一。使用Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪制备纳米碳化钨粉末的截面,观察粉末颗粒内部微观形貌。

用离子束切割方式制备没有应力形变的粉末截面样品,可以观察到内部孔洞和粉末的团聚结构。实验第一步是将要切割的粉末包埋,以粒度200nm左右的碳化钨粉末为例,包埋方式可以采用树脂包埋,也可以将样品混合在导电碳胶中。

包埋后的粉末样品形貌如下:

SEM图像,放大倍率1万倍

SEM图像,放大倍率3万倍

本次实验用MBOND610离子减薄树脂包埋碳化钨粉末样品,固化后将树脂切成小片,然后使用离子束连粉末和树脂一起切割薄片截面。

团聚的粉末颗粒内部形貌

SEM图像,放大倍率1万倍

 

粉末颗粒中存在数十纳米的孔洞

SEM图像,放大倍率3万倍

大        颗粒包裹小颗粒

SEM图像,放大倍率2万倍

 

SEM图像,放大倍率3万倍

相关产品

 

 

 

徕卡EM TIC 3X三离子束切割仪

上一篇:偏光显微镜的特点

下一篇:全国人大代表心系

与此资讯相关条目更多>>
热点新闻推荐更多>>
友情链接:万能试验机

网站声明 | 商业合作 | 联系我们 | 集团邮局

版权及内容所有:上海百贺仪器科技有限公司沪ICP备10009833号-18 Copyright 2010 BaHens(CHINA) INSTRUMENT CO.,LTD.