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高分子材料失效分析失效模式及分析技术
发表时间:2016-08-29 点击次数:2376 关键词:扫描电镜 相关产品:
扫描电镜 蔡司/FEI/日立/电子
随着生产和科学技术的发展,人们不断对高分子材料提出各种各样的新要求。总的来说,今后对高分子材料技术总的发展趋势是高性能化、高功能化、复合化、智能化和绿色化。因为技术的全新要求和产品的高要求化,而客户对高要求产品及工艺理解不一,于是高分子材料断裂、开裂、腐蚀、变色等之类失效频繁出现,常引起供应商与用户间的责任纠纷,所以导致了严重的经济损失。进而越来越多的企业、单位对于高分子材料失效分析有了一个全新的要求,不再是以往的直接更换等常规手段,而需要通过失效分析手段查找其失效的根本原因及机理,来提高产品质量、工艺改进及责任仲裁等方面。
服务对象
高分子材料生产厂商:深入产品失效产生可能原因的设计、生产、工艺、储存、运输等阶段,深究其失效机理,为提升产品良率及优化生产工艺方面提供依据。
组装厂:责任仲裁;改进组装生产工艺;对供应商来料检验品质方面提供帮助。
经销商或代理商:为品质责任提供有利证据,对其责任进行公正界定。
整机用户:改进产品工艺及可靠性,提高产品核心竞争力。
主要失效模式
(但不限于)
断裂、开裂、腐蚀、分层、起泡、涂层脱落、变色、磨损失效等。
塑料外框发黄失效
塑料连接器开裂失效
IC分层失效
多层油墨脱落失效
电梯按钮PC外框断裂失效
常用失效分析技术手段
材料成分分析方面
:
傅立叶变换显微红外光谱分析(FTIR)
显微共焦拉曼光谱仪(Raman)
扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS)
X射线荧光光谱分析(XRF)
气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)
裂解气相色谱-质谱联用(PGC-MS)
核磁共振分析(NMR)
俄歇电子能谱分析(AES)
X射线光电子能谱分析(XPS)
X射线衍射仪(XRD)
飞行时间二次离子质谱分析(TOF-SIMS)
材料热分析方面
:
差示扫描量热法(DSC)
热重分析(TGA)
热机械分析(TMA)
动态热机械分析(DMA)
材料裂解分析方面
:
凝胶渗透色谱分析(GPC)
熔融指数测试(MFR)
材料断口分析方面
:
体式显微镜(OM)
扫描电镜分析(SEM)
材料物理性能测试
:拉伸强度、弯曲强度等
产生效益
1)查明高分子材料失效根本原因,有效提出工艺及产品设计等方面改进意见;
2)提供产品及工艺改进意见,提升产品良率及可靠性,提升产品竞争力;
3)明确产品失效的责任方,为司法仲裁提供依据。
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