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材料科学领域透射电镜和扫描电镜制样方法与技巧

发表时间:2020-05-19    点击次数:1658    相关产品:徕卡显微镜 金相/体视/偏光

样品形状(块材、薄膜、颗粒)、结构性质(紧密的、多空的)、化学性质(有机、无机)、物理性质(软的、硬的、有延展性的)、电学性质(导体、半导体、非导体)各不相同,如何选择合适的制样方法?

 

常备制样方法很多,例如:电解双喷、机械减薄、超薄切片、粉碎研磨、聚焦离子束、散焦离子束,各有优缺点,各有局限性,各种方法如何配合使用得到很好的效果?

 

SEM样品制备

所有的EBSD样品制备方法都需保证样品表面不能有任何划痕,因为划痕下面就是严重损伤。一个深的划痕意味着在其下面有一个深的变形存在。为了获得高质量的EBSD花样就需去除这些划痕和其下面的损伤层。

 

从各种角度,用不同时间和加速电压进行的离子束抛光用于清洗增加衬度,比起费时费力的湿化学刻蚀方法是更为可取的。

三离子束制备截面样品

· 没有污染

· 高质量平整切割截面

· 形变或损伤的可能性很低

· 直接用于SEM微区分析

 

 

 

 

 

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