Atotech Spain 公司实验室经理 F. Javier Ruiz Balbas

 

 

 

可否请您简单说明一下质量控制部门的工作流程以及您负责的任务？您要检测哪种缺陷？您要检查哪种类型的涂层？

 

Ruiz Balbas：Atotech Spain 公司的质量控制流程主要是接收发现有缺陷的部件。这种缺陷通过金相制备 (切割和抛光步骤) 进行序列分析，进而执行一系列检验。适当的样品制备完成后，我们会继续通过光学显微技术和扫描电子显微技术进行检验。我们的工作通常主要针对铜、镍、铬、锌、金等金属矿床生成的表面缺陷进行金相检验和测量。

 

 

您面临的特殊挑战有哪些？

 

Ruiz Balbas：在工作流程中，需要用很短的时间从一个缺陷中获取多的信息，这是有挑战性的任务。

带有镍/镍/铬涂层的铜金属。顶层镀有半光亮镍、光亮镍和铬涂层。样品使用 Leica EM TXP 制备。照片：Atotech Spain 公司提供

 

随着新材料的开发，汽车行业的质量控制要求发生了怎样的改变？

 

Ruiz Balbas：汽车行业所有领域都须具有可持续性。这意味着如今我们操作的非 CMR (致癌、诱导基因突变或毒害生殖系统) 产品具有更高的物化性质，同时也正在向减排发展。总而言之，Atotech 受此推动十余年，将年营业额的 10% 投入到研发和材料科学方面。因此，我们一直是汽车行业的表面处理合作伙伴。

 

贵公司的质量控制如何脱颖而出？

 

Ruiz Balbas：我们的与众不同之处在于，我们在金相技术领域拥有广泛的经验。

 

在选择 Leica EM TXP/DM2700 M 系统之前，工作流程是怎样的？存在哪些缺点？

 

 

Ruiz Balbas：使用传统方法进行样品制备时，瞄准微小的缺陷和细节十分复杂。在许多情况下，样品操作和制备等人为操作因素很容易为成品质量带来变数，有时样品还会在研磨-抛光过程中倾斜。传统方法还需要为样品操作提供消耗性的辅助支持材料，例如用树脂包封样品。

 

 

使用 Leica EM TXP 标靶面抛光系统，我们能够通过受控的步级顺序改进材料切割-抛光过程。我们可以指定要在标靶细微结构上前移的微米数。受控的切割-抛光前进步级可在 0.5 微米至 100 微米之间选择。在这之前，我们根本看不到缺陷型材横截面的外观和准确程度。

 

如今采用 Leica EM TXP/DM2700 M 系统后，得益于其一体化体视显微镜，从横截面开始，到制备过程，再到完成，都可以从不同的角度查看样品。

 

 

 

 

 

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