图1. 期刊首页截图

图2. 摘要译文

为了辅助验证上述提出的球形囊泡结构，采用岛津XPS结合氩离子刻蚀技术（见图4）对PEO-b-PS/H4SiW12O40进行表征，由于表面可能为有机结构，故采用10keV Ar1000⁺模式进行刻蚀，刻蚀前后结果见图5。刻蚀前表面同时存在C、O、W、Si等元素，说明表面包覆不完全均匀，C元素主要以PS中的苯环碳结构（284.8 eV为苯环中碳物种，292 eV为π-π*峰）存在， C元素相对含量高达80%，而Si、W含量较低，说明表面包覆层主要为PS，刻蚀后Si、O、W元素特征峰均显著增强，说明次外层为PEO与H4SiW12O40，如图5f所示，与预期一致。

图5. 由PEO-b-PS/H4SiW12O40组成的纳米复合薄膜的溅射前后的谱图及元素相对含量

<p style="margin: 0px 0px 24px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; clear: both; min-height: 1em; color: rgba(0, 0, 0, 0.9); font-family: system-ui, -apple-system, BlinkMacSystemFont, " helvetica="" neue",="" "pingfang="" sc",="" "hiragino="" sans="" gb",="" "microsoft="" yahei="" ui",="" yahei",="" arial,="" sans-serif;="" font-size:="" 17px;="" letter-spacing:="" 0.544px;="" text-align:="" center;="" box-sizing:="" border-box="" !important;="" overflow-wrap:="" break-word="" !important;"=""> 免责声明：本平台文章均系转载，版权归原作者所有。所转载文章并不代表本网站赞同其观点和对其真实性负责。如涉及作品版权问题，请及时联系我们400-099-6011，我们将作删除处理以保证您的权益！