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奥林巴斯激光共聚焦显微镜LEXT OLS4100

奥林巴斯激光共聚焦显微镜LEXT OLS4100
  • 产品编号: 奥林巴斯激光共聚焦显微镜LEXT OLS4100
  • 产品型号: LEXT OLS4100
  • 所属类别: 奥林巴斯显微镜 金相/共聚焦
  • 所属品牌: OLYMPUS
  • 所属用途: 表面形貌观察
  • 应用领域: 金属
出品单位: 
奥林巴斯激光共聚焦显微系统
江南仪器为您提供奥林巴斯激光共聚焦显微镜LEXT OLS4100的方案介绍:
奥林巴斯激光共聚焦显微镜LEXT OLS4100是一款激光扫描显微镜,通过非接触的方式进行样品表面三维形貌观察和测量。分辨率达10nm,可以方便快捷地获取影像,同时配备丰富的测量功能。
采用了有着高N.A. 的专用物镜和专用光学系统(能很大限度发挥405 nm 激光性能),LEXT OLS4100 可以准确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。这有利于粗糙度的测量。
由于采用405 nm 的短波长激光和更高数值孔径的物镜,OLS4100 达到了0.12 μm 的平面分辨率。因此,可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的0.8 nm 的光栅读取能力和软件算法,例如奥林巴斯开创的I-Z 曲线(请参阅第23 页),OLS4100 可以分辨出10 nm 的高度差。
OLS4100 采用了双共焦系统,结合高灵敏度的探测器,那些具有不同反射率材料的样品,也能在OLS4100 上获得鲜明的影像。
适用于透明层
多层模式 
LEXT OLS4100 多层模式则可以识别多层样品各层上反射光强度的峰值区域,并将各层设为焦点,这样即可实现对透明样品上表面的观察和测量,而且也可以对多层样品的各层进行分析和厚度测量。 
观察/测量透明材料的各个层 
多层模式可实现对透明样品的顶部的透明层进行观察和测量。即使在玻璃基片上覆有一层透明树脂层,也可测量出各层的形状和粗糙度以及表面覆膜的厚度。
 
LEXT 专用物镜
奥林巴斯激光共聚焦显微镜LEXT OLS4100技术规格:
主机
LSM 部分 光源、检出系统 光源:405 nm 半导体激光 
检出系统:光电倍增管
总倍率 108x ~ 17,280x
变焦 光学变焦1x ~ 8x
测量 平面测量 重复性 00x: 3σn-1=0.02 µm
正确性 测量值的±2%以内
高度测量 方式 物镜转换器上下驱动方式
行程 10 mm
内置比例尺 0.8 nm 
移动分辨率 10 nm
显示分辨率 1 nm 
重复性 50x: σn-1=0.012 μm
正确性 0.2 + L/100 μm 以下(L=测量长度μm)
彩色观察部分 光源、检查系统 光源:白色LED, 
检查系统:1/1.8 英寸200 万像素单片CCD
变焦 数码变焦1x ~ 8x
物镜转换器 6 孔电动物镜转换器
微分干涉单元 微分干涉滑片:U-DICR, 
内置偏振光片单元
物镜 明视场平面半消色差透镜5x、10x 
LEXT 专用平面复消色差透镜20x、50x、100x
Z 对焦部分行程 100 mm 
XY 载物台 100×100 mm(电动载物台), 
选件: 300×300 mm(电动载物台)

此设备为专为在工业环境下实施检测设计的A 类设备。如在住宅区内使用可能会干扰其他设备。

物镜
型号 倍率 视场 工作距离(WD) 数值孔径(N/A)
MPLFLN5X 108x-864x 2,560-320 μm 20.0 mm 0.15
MPLFLN10X 216x-1,728x 1,280-160 μm 11.0 mm 0.30
MPLAPON20XLEXT 432x-3,456x 640-80 μm 1.0 mm 0.60
MPLAPON50XLEXT 1,080x-8,640x 256-32 μm 0.35 mm 0.95
MPLAPON100XLEXT 2,160x-17,280x 128-16 μm 0.35 mm 0.95

高度测量


可以测量轮廓截面上任意两点之间的高低差异。 
轮廓测量也同样可用

表面粗糙度测量


可以测量线粗糙度,以及平面整体的面粗糙度。

 

 

面积/体积测量


根据设置在轮廓截面上的任意阈值,可以测量其上部或下部的体积。

粒子测量 (选购件)


可以通过分离功能使粒子自动分离,设置阈值,根据ROI 设置检测范围。

 

 

几何测量


可以测量影像上任意两点之间的距离。还可以测量任意区域的面积。

膜厚测量 (选购件)


可以根据测出的对焦位置,测量透明介质的膜厚。

 

 

自动寻边测量 (选购件)


可以自动寻边,测量线宽和圆,减少人为的测量误差。

 
友情链接:万能试验机

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