主机 | |||
LSM 部分 | 光源、检出系统 |
光源:405 nm 半导体激光 检出系统:光电倍增管 |
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总倍率 | 108x ~ 17,280x | ||
变焦 | 光学变焦1x ~ 8x | ||
测量 | 平面测量 | 重复性 | 00x: 3σn-1=0.02 µm |
正确性 | 测量值的±2%以内 | ||
高度测量 | 方式 | 物镜转换器上下驱动方式 | |
行程 | 10 mm | ||
内置比例尺 | 0.8 nm | ||
移动分辨率 | 10 nm | ||
显示分辨率 | 1 nm | ||
重复性 | 50x: σn-1=0.012 μm | ||
正确性 | 0.2 + L/100 μm 以下(L=测量长度μm) | ||
彩色观察部分 | 光源、检查系统 |
光源:白色LED, 检查系统:1/1.8 英寸200 万像素单片CCD |
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变焦 | 数码变焦1x ~ 8x | ||
物镜转换器 | 6 孔电动物镜转换器 | ||
微分干涉单元 |
微分干涉滑片:U-DICR, 内置偏振光片单元 |
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物镜 |
明视场平面半消色差透镜5x、10x LEXT 专用平面复消色差透镜20x、50x、100x |
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Z 对焦部分行程 | 100 mm | ||
XY 载物台 |
100×100 mm(电动载物台), 选件: 300×300 mm(电动载物台) |
此设备为专为在工业环境下实施检测设计的A 类设备。如在住宅区内使用可能会干扰其他设备。
物镜 | ||||
型号 | 倍率 | 视场 | 工作距离(WD) | 数值孔径(N/A) |
MPLFLN5X | 108x-864x | 2,560-320 μm | 20.0 mm | 0.15 |
MPLFLN10X | 216x-1,728x | 1,280-160 μm | 11.0 mm | 0.30 |
MPLAPON20XLEXT | 432x-3,456x | 640-80 μm | 1.0 mm | 0.60 |
MPLAPON50XLEXT | 1,080x-8,640x | 256-32 μm | 0.35 mm | 0.95 |
MPLAPON100XLEXT | 2,160x-17,280x | 128-16 μm | 0.35 mm | 0.95 |
可以测量轮廓截面上任意两点之间的高低差异。
轮廓测量也同样可用
可以测量线粗糙度,以及平面整体的面粗糙度。
根据设置在轮廓截面上的任意阈值,可以测量其上部或下部的体积。
可以通过分离功能使粒子自动分离,设置阈值,根据ROI 设置检测范围。
可以测量影像上任意两点之间的距离。还可以测量任意区域的面积。
可以根据测出的对焦位置,测量透明介质的膜厚。
可以自动寻边,测量线宽和圆,减少人为的测量误差。